一、 光學(xué)元件加工
1. 菲涅爾透鏡設(shè)計與加工
菲涅爾透鏡的設(shè)計基于光的折射和反射原理。其同心棱紋結(jié)構(gòu)能夠?qū)饩�進(jìn)行精確控制，使光線在通過透鏡時發(fā)生折射和聚焦，從而實(shí)現(xiàn)與傳統(tǒng)透鏡相似的光學(xué)效果，但重量更輕、體積更小。
加工工藝：
a) 采用超精密單點(diǎn)金剛石車削技術(shù)進(jìn)行菲涅爾透鏡的加工。
b) 將熔融的樹脂通過精密注塑機(jī)注入模具中，冷卻后形成非球面透鏡。
c) 根據(jù)應(yīng)用需求，在透鏡表面鍍制增透膜、反射膜或其他功能性薄膜，以提高透鏡的光學(xué)性能。
菲涅爾透鏡
2. 非球面透鏡設(shè)計加工
與傳統(tǒng)的球面透鏡相比，非球面透鏡能夠更好地校正光學(xué)系統(tǒng)中的像差，例如球差、彗差和像散，從而提高成像質(zhì)量、減小系統(tǒng)體積和重量。
加工工藝
a) 模具加工：利用金剛石刀具在超精密車床上對透鏡模仁進(jìn)行切削
b) 注塑成型: 將熔融的樹脂通過精密注塑機(jī)注入模具中，冷卻后形成非球面透鏡。
c) 表面鍍膜: 根據(jù)應(yīng)用需求，在透鏡表面鍍制增透膜、反射膜或其他功能性薄膜，以提高透鏡的光學(xué)性能。
非球面透鏡干涉儀測量
二、 光學(xué)元件與系統(tǒng)測量
1. 光學(xué)元件面型測量
采用干涉儀、非接觸式輪廓儀等先進(jìn)檢測方法，本公司可提供快速、高精度三維光學(xué)元件面型測量服務(wù)。
主要測量功能及參數(shù)：
可檢測元件類別：平面、球面、非球面、自由曲面等
可檢測原件最大尺寸：D H: 反射鏡2000 x 500mm；平面鏡、透射鏡1000 x 300 mm
測量精度：≤10 nm RMS（旋轉(zhuǎn)對稱面形）；≤15 nm RMS（非旋轉(zhuǎn)對稱面形）
重復(fù)測量精度：≤3 nm RMS(旋轉(zhuǎn)對稱面形)；≤6 nm RMS（非旋轉(zhuǎn)對稱面形）
曲率半徑測量精度：≤5 µm （1英寸標(biāo)準(zhǔn)球）
2. 光學(xué)元件表面粗糙度面型測量
采用白光干涉儀，本公司可提供快速、高精度光學(xué)元件表面粗糙度測量服務(wù)。
主要測量功能及參數(shù)：
可檢測類型：粗糙面、拋光面表面紋理、臺階高度；
測量精度：0.1nm。
3. 光學(xué)元件中心偏測量
采用雙光路中心偏差測量儀，本公司可提供快速、高精度光學(xué)元件中心偏測量服務(wù)。
主要測量功能及參數(shù)：
可檢測元件類別：單透鏡中心偏差測量、膠合透鏡中心偏差測量、單透鏡曲率半徑測量、鏡頭組中心偏差測量、可見光光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)、紅外光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)；
測量模式：透射模式和反射模式；
被測鏡片EFL或半徑：±5mm~±2000mm；
中心偏差測量精度：±0.2μm或者±2″；
中心偏重復(fù)精度：±0.1μm或者±1″；
半徑測量范圍：±5mm~±900mm；
半徑測量精度：0.3%；
被測鏡頭最大直徑：400mm；
被測鏡頭最大高度：600mm；
被測鏡頭鏡面數(shù)量：40面。
鏡組裝調(diào)測量結(jié)果
4. 光學(xué)系統(tǒng)MTF測量
采用MTF系統(tǒng)檢測裝備，本公司可提供快速、高精度光學(xué)系統(tǒng)MTF測量服務(wù)。
主要測量功能及參數(shù)：
可檢測光學(xué)系統(tǒng)波段：紫外、可見光、中波紅外、長波紅外等
鏡頭焦距：5-2000mm；
最大通光口徑：450mm；
最大離軸角度：±120°；
EFL測量精度：±0.3%；
MTF測量精度：±0.02MTF（軸上）、±0.03MTF（軸外）；
MTF測量重復(fù)性：0.01MTF；
最大空間頻率：UV（100lp/mm）、VIS-NIR(500lp/mm)、MWIR(80lp/mm)、LWIR(60lp/mm);
樣品承載重量：20kg。
離軸角57°測量結(jié)果
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