我們很高興宣布OptiSystem22.1新版本已經(jīng)發(fā)布了，以下是其更新功能：
新增組件/工具：
I. 光學(xué)S參數(shù)組件（Optical S-Parameters）
光學(xué)S參數(shù)組件可用于將光子集成電路（PIC）設(shè)計通過在組件中加載S參數(shù)集成到OptiSystem軟件中。該功能允許用戶在完整的系統(tǒng)設(shè)置中描述PIC，從而提供有關(guān)PIC規(guī)格和公差的信息。
該組件的輸入和輸出端口會根據(jù)以下操作動態(tài)生成：選擇S參數(shù)文件類型，并通過組件屬性窗口中的相應(yīng)圖標執(zhí)行S參數(shù)文件加載。創(chuàng)建的輸入/輸出端口對將分布在組件的左右兩側(cè)。若需將端口置于組件頂部或底部，可在S參數(shù)文件的文件頭中進行設(shè)置。所加載的S參數(shù)文件可由第三方軟件或其他Optiwave軟件套件（如OptiBPM和OptiFDTD）生成。S參數(shù)文件支持多種格式，包括Touchstone格式。Touchstone格式允許加載光子集成電路（PIC）器件的實際測量實驗數(shù)據(jù)。
圖1展示了用于濾除單一波長的環(huán)形諧振器示意圖。該器件采用Optiwave公司的OptiFDTD軟件設(shè)計，其結(jié)構(gòu)實現(xiàn)包含四個部分：
1. 環(huán)形結(jié)構(gòu)的定向耦合器部分通過光學(xué)S參數(shù)組件加載其S參數(shù)；
2. 兩條直波導(dǎo)部分則采用光子集成電路波導(dǎo)組件（PIC W.G）實現(xiàn)。
設(shè)計參數(shù)設(shè)定為：耦合區(qū)長度22微米（μm），耦合間隙0.25微米（μm）。
圖1.采用光學(xué)S參數(shù)組件與光子集成電路波導(dǎo)(W.G)組件實現(xiàn)的環(huán)形諧振器
II. PIC Waveguide（W.G）
PIC Waveguide（W.G）組件可用于模擬純光學(xué)波導(dǎo)及電控光學(xué)波導(dǎo)。該組件通常以雙向模式工作（電控狀態(tài)下除外），用戶可通過固定或自定義的折射率分布來設(shè)定波導(dǎo)的有效折射率。電控相移的實現(xiàn)方式包括調(diào)節(jié)波導(dǎo)有效折射率、波導(dǎo)長度或兩者同時調(diào)節(jié)。如圖1所示，在環(huán)形諧振器設(shè)計中，該組件作為光學(xué)波導(dǎo)使用。
圖2展示了采用兩個光子集成電路波導(dǎo)(W.G)組件實現(xiàn)的馬赫-曾德爾調(diào)制器(MZM)進行外部調(diào)制的10Gbps調(diào)制信號原理圖。
圖2.采用光子集成電路波導(dǎo)(W.G)組件設(shè)計的馬赫-曾德外調(diào)制器(MZM)生成的10Gbps調(diào)制信號
III. 機器學(xué)習(xí)工具（Machine Learning Tool）
機器學(xué)習(xí)（ML）工具已被集成至OptiSystem軟件，用戶可通過分析雙電平系統(tǒng)的眼圖來訓(xùn)練光通信系統(tǒng)。如圖3所示，該工具提供多個功能選項卡，支持用戶對OptiSystem項目生成的眼圖模型進行訓(xùn)練與測試。此外，工具還可導(dǎo)入外部眼圖圖像，并基于該圖像預(yù)測系統(tǒng)在生成眼圖時的運行狀態(tài)。工具將根據(jù)訓(xùn)練條件提供系統(tǒng)參數(shù)及眼圖分析結(jié)果，以便用戶采取相應(yīng)的系統(tǒng)管理措施。
圖3.為10Gbps NRZ OOK-DD系統(tǒng)創(chuàng)建的機器學(xué)習(xí)工具界面
功能增強：
允許用戶通過項目瀏覽器中的"Quick View"功能控制可視化結(jié)果顯示方式：可逐次顯示單次迭代結(jié)果，亦可同時展示全部迭代結(jié)果。快速查看窗口新增功能，支持在不同掃描迭代間切換瀏覽（支持切換操作）。
將VCSEL Laser Measured和Laser Measured組件中的激光增強因參數(shù)估計范圍修改為[-100,100]，以便用戶研究具有負啁啾參數(shù)的激光器特性。
允許用戶通過鉺鐿共摻雜波導(dǎo)組件構(gòu)建環(huán)形激光器：支持反饋放大的自發(fā)輻射（ASE），并可在信號波長超出ASE帶寬范圍時正常工作。
允許在空間解復(fù)用器組件的輸出處查看每個空間模式生成的ASE噪聲。
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