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時間地點(diǎn)：

主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司（微信公眾號：infotek）
協(xié)辦單位：蘇州黌論教育咨詢有限公司（微信公眾號：honglun-seminary）
授課時間：疫情原因延期至2023年6月后，具體時間待定
授課地點(diǎn)：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室
課程費(fèi)用：4800元（包含課程材料費(fèi)、開票稅金、午餐費(fèi)用）
授課專家：訊技光電高級顧問&高級工程師

1. Essential Macleod軟件介紹
1.1 介紹軟件
1.2 運(yùn)行程序
1.3 創(chuàng)建一個簡單的設(shè)計(jì)
1.4 繪圖和制表來表示性能
1.5 3D繪圖-用兩個變量繪圖表示性能
1.6 創(chuàng)建一個默認(rèn)設(shè)計(jì)
1.7 文件位置
1.8 通過剪貼板和文件導(dǎo)入導(dǎo)出數(shù)據(jù)
1.9 約定-程序中使用的各種術(shù)語的定義
1.10厚度（物理厚度，光學(xué)厚度[FWOT,QWOT]，幾何厚度）
1.11 單位定義
1.12 軟件如何進(jìn)行數(shù)據(jù)插值
1.13 可用的材料模型（Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann）
1.14 特定設(shè)計(jì)的公式技術(shù)
1.15 交互式繪圖
2. 光學(xué)薄膜理論基礎(chǔ)
2.1 介質(zhì)和波
2.2 垂直入射時的界面和薄膜特性計(jì)算
2.3 傾斜入射時的界面和薄膜特性計(jì)算
2.4 后表面對光學(xué)薄膜特性的影響
2.5 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)理論
3. 理論技術(shù)
3.1 參考波長與g
3.2 四分之一規(guī)則
3.3 導(dǎo)納與導(dǎo)納圖
3.4 斜入射光學(xué)導(dǎo)納
3.5 對稱周期
4. 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)
4.1 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)的進(jìn)展
4.2 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)中的一些實(shí)際問題
4.3 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)技巧
4.4 特殊光學(xué)薄膜的設(shè)計(jì)方法
4.5 Macleod軟件的設(shè)計(jì)與優(yōu)化功能
4.5.1 優(yōu)化目標(biāo)設(shè)置
4.5.2 優(yōu)化方法（單一優(yōu)化，合成優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，準(zhǔn)牛頓法，針形優(yōu)化，差分演化法）
4.5.3 膜層鎖定和鏈接
5. 常規(guī)光學(xué)薄膜系統(tǒng)設(shè)計(jì)與分析
5.1 減反射薄膜
5.2 分光膜
5.3 高反射膜
5.4 干涉截止濾光片
5.5 窄帶濾光片
5.6 負(fù)濾光片
5.7 非均勻膜與Rugate濾光片
5.8 Vstack薄膜設(shè)計(jì)示例
5.9 Stack應(yīng)用范例說明
6. VR、AR及HUD用光學(xué)薄膜
6.1 背景介紹
6.2 產(chǎn)品特性
6.3 典型VR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)分析
6.4 典型AR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)分析
6.5 典型HUD系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)分析
7. 防霧薄膜
7.1自清潔效應(yīng)
7.2 超親水薄膜
7.3 超疏水薄膜
7.4 防霧薄膜的制備
7.5 防霧薄膜的性能測試
8. 材料管理
8.1 光學(xué)薄膜材料性能及應(yīng)用評述
8.2 金屬與介質(zhì)薄膜
8.3 材料模型
8.4 介質(zhì)薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
8.5 金屬薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
8.6 基板光學(xué)常數(shù)的提取
8.7 光學(xué)常數(shù)導(dǎo)出遇到的問題及解決思路
9. 薄膜制備技術(shù)
9.1 常見薄膜制備技術(shù)
9.2 光學(xué)薄膜制備流程
9.3 淀積技術(shù)
9.4 工藝因素
10. 誤差、容差與光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)
10.1 光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)
10.2 誤差分析與監(jiān)控決策
10.3 Runsheet 與 Simulator應(yīng)用技巧
10.4 膜系靈敏度分析
10.5 膜系容差分析
10.6 誤差分析工具
11. 反演工程
11.1 鍍膜過程中兩種主要的誤差（系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差）
11.2 使用反演工程來控制對設(shè)計(jì)的搜索
12. 應(yīng)力、張力、溫度和均勻性工具
12.1 光學(xué)性質(zhì)的熱致偏移
12.2 應(yīng)力工具
12.3 均勻性誤差(圓錐工具、波前問題)
13. Function功能擴(kuò)展
13.1 如何在Function中編寫操作數(shù)
13.2 如何在Function中編寫腳本
14. 光學(xué)薄膜特性測量
14.1 薄膜光學(xué)常數(shù)的測量
14.2 薄膜堆積密度的測量
14.3 薄膜微觀結(jié)構(gòu)分析
14.4 薄膜成分分析
14.5 薄膜硬度、附著性及耐摩擦性的測量
14.6 薄膜表面粗糙度的測量
15. 項(xiàng)目管理與應(yīng)用實(shí)例
15.1 項(xiàng)目管理
15.2 光學(xué)薄膜項(xiàng)目開發(fā)過程
15.3 客戶需求分析
15.4 文檔管理與報(bào)表生成
15.5 【案例分析】Macleod 軟件在太陽能薄膜中的應(yīng)用
15.6 【案例分析】Macleod 軟件在激光薄膜設(shè)計(jì)分析中的應(yīng)用
15.7 【案例分析】Macleod 軟件在光電功能薄膜中的應(yīng)用
15.8 仿生蛾眼結(jié)構(gòu)在顯示技術(shù)上的應(yīng)用
15.9 OLED薄膜及微腔效應(yīng)
15.10 金屬線柵偏振器
16. Q&A